當(dāng)前位置:鉑悅儀器(上海)有限公司>>X-ray鍍層測厚儀>> M1 MISTRAL鍍層測厚儀M1
用于大件樣品和多層膜樣品的非破壞分析
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,可對大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍:原子序數(shù)22號(鈦)-92號(鈾)中的元素。分析的樣品類型:各種不同材料,如金屬、合金、塊體、溶液等。
480×490×200mm³的大腔體支持更大樣品的測量。自動X-Y-Z軸程控樣品臺,大移動范圍200×175×80mm,支持自動多點(diǎn)測量。
M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 μ-XRF 光譜儀,用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益, 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準(zhǔn)確信息。測定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠寶及合金分析:
M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。珠寶合金、鉑族金屬及銀制品、不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K(開)表示
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,可對大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍:原子序數(shù)22號(鈦)以上的元素。分析的樣品類型:各類不同的材料,如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品
樣品尺寸大可達(dá)100×100×100mm,無需處理,直接放在樣品臺上檢測。
光管位于樣品上方,測量過程中部接觸樣品,因此可以很容易地分析復(fù)雜式樣的樣品,如精工細(xì)作的珠寶和不容厚度的樣品。
各種應(yīng)用介紹:
· 通用金屬分析
M1 MISTRAL是通用金屬鍍層分析的理想工具,對緊固件、五金材料、汽車零部件鍍層的機(jī)械部件都能進(jìn)行準(zhǔn)確、便捷的分析。
· 電子/PCB
采用X-Ray熒光技術(shù)的M1 MISTRAL也可分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、引線框架、圓晶、連接器等,M2 BLIZZARD采用開放腔體,可對大型電路板進(jìn)行測量。
· 珠寶及合金分析
M1 MISTRAL是珠寶。硬幣及貴金屬的理想分析工具。珠寶合金,30S就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K(開)表示。